Electron microscopy; proceedings of the Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956 electronmicrosco00euro Year: 1957 Elektronenmikroskop niir imiverseller Anwendbarkeit fiir Elektronenbeugung 31 Abb. 1. Ansicht des Mikroskoptubus. Abdcckrahmen dienen zur Wahl des „Belichtungs- formates' bei Anwendung des Mikroskopes als Beugungsapparatur. So konnen z. B. auch IK Auf- nahmen im Format 6 1 cm aufgenommen werden und bei der Elektronenbeugung an Oberfliichen kann zur Erfassung des ganzen Beugungsbildes das For- mat 6 X 6 cm, jetzt asymmetrisch zur Gerateachse
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Electron microscopy; proceedings of the Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956 electronmicrosco00euro Year: 1957 Elektronenmikroskop niir imiverseller Anwendbarkeit fiir Elektronenbeugung 31 Abb. 1. Ansicht des Mikroskoptubus. Abdcckrahmen dienen zur Wahl des „Belichtungs- formates' bei Anwendung des Mikroskopes als Beugungsapparatur. So konnen z. B. auch IK Auf- nahmen im Format 6 1 cm aufgenommen werden und bei der Elektronenbeugung an Oberfliichen kann zur Erfassung des ganzen Beugungsbildes das For- mat 6 X 6 cm, jetzt asymmetrisch zur Gerateachse liegend, benutzt werden. Unterhalb der Projektive miissen. wie schon er- wahnt, die Objekt angeordnet werden, bei Betrieb des Geriites als Elektronenbeugungsapparatur. Hierzu sind 4 Flansche (siehe Abb. 1) vorgesehen, die zur Einbringung spezieller Objekthalterungen, gegebenenfalls einer Praparatschleuse, oder Vorrich- tungen zur Reinigung der Oberfliiche durch Abglim- men, dienen. Die Abb. 1 zeigt die Ansicht der Mikroskopsaule. An speziellen Zusatzgeraten zur Anwendung des Mikroskopes als Beugungsapparatur wurden zu- niichst (gemeinsam mit K. H. Brauer) ein Manipula- tor fur streifende Elektronenbeugung und cine An- ordnung zur kinematischen Elektronenbeugung nach Boettcher und Thun (3) gebaut und crprobt. Der Manipulator fur Elektronenbeugung bei strei- fendem Einfall unterscheidet sich von bekannten Konstruktionen (4) vor allem dadurch, daB der zu untersuchende Kristall in einem Goniometcrkopf gehaltert wird, welcher in reproduzierbarer Lage in den Manipulator einzusetzen ist. In einer einfachcn Hilfsvorrichtung, unter Benutzung eines ublichen Lichtmikroskopes, wird zunachst ein geeigneter Be- reich der zu untersuchcnden Kristaliniiche ausge- sucht und durch die Vcrstcllmoglichkeitcn des Go- niometerkopfes „polar' zur azimutalen Drehachse des Manipulators einjustiert. Dies bietet den Vorteil, daB nach Auffindcn des Beugungsbildes durch Ver- schiebung in der /um Slrahl